激光損傷閾值測(cè)試儀(LIDT)

    本產(chǎn)品是西安工業(yè)大學(xué)蘇俊宏教授團(tuán)隊(duì)歷經(jīng)16年產(chǎn)品研發(fā)與迭代，形成了多波長(zhǎng)共光路設(shè)計(jì)方案，實(shí)現(xiàn)了集成多種評(píng)判方法的組合評(píng)判技術(shù)，研制出產(chǎn)品級(jí)的激光損傷閾值測(cè)試儀，可以解決光學(xué)薄膜激光損傷閾值的精確檢測(cè)，為激光光學(xué)元件、激光薄膜器件的制造等提供硬件支撐。

    測(cè)試儀具有數(shù)字化、智能化、集成化特點(diǎn)，操作簡(jiǎn)單，全自動(dòng)測(cè)試，激光損傷閾值的測(cè)試可一鍵完成。同時(shí)采用觸摸屏輸入輸出，具有100-450×顯微校驗(yàn)系統(tǒng)，對(duì)可疑點(diǎn)可隨時(shí)進(jìn)行校驗(yàn)。能夠?qū)崿F(xiàn)光學(xué)元件或薄膜的激光損傷閾值測(cè)試，還可進(jìn)行薄膜元件的激光預(yù)處理，提高其激光損傷閾值。目前已經(jīng)研制出激光損傷閾值測(cè)試儀功能樣機(jī)，激光輸出波長(zhǎng)1064nm/532nm，脈沖寬度10ns，測(cè)試范圍0-100J/cm2，測(cè)試系統(tǒng)分辨率0.2J/cm2。

    本裝置可以根據(jù)客戶的要求，進(jìn)行定制研發(fā)。實(shí)現(xiàn)中紅外波長(zhǎng)，紫外波長(zhǎng)等更多通道的集成與處理。

激光薄膜損傷閾值測(cè)試儀主機(jī)

自主開(kāi)發(fā)的軟件，全自動(dòng)測(cè)試

聯(lián)系人：吳慎將 13571497206